美國(guó)GE TIV超聲波硬度計(jì)現(xiàn)貨銷(xiāo)售的詳細(xì)資料：

美國(guó)GE TIV超聲波硬度計(jì)現(xiàn)貨銷(xiāo)售

TIV超聲波硬度計(jì)詳細(xì)介紹：
通過(guò)壓痕觀(guān)察法
不管何種材料都可以用TIV硬度檢測(cè)儀--無(wú)需任何附加校準(zhǔn)。您可用同一儀器測(cè)量各種材料的硬度，無(wú)需任何參比試樣，也無(wú)需任何費(fèi)力的設(shè)置：從鋼和有色金屬到塑料、硬質(zhì)合金金屬、玻璃，以及陶瓷、不同的涂層。
靜態(tài)施加檢測(cè)負(fù)載可減少檢測(cè)物體的振動(dòng)，減小檢測(cè)材料的彈性性質(zhì)對(duì)檢測(cè)結(jié)果的影響。另一優(yōu)點(diǎn)：您甚至可用TIV成功測(cè)量非常薄的檢測(cè)物體，如線(xiàn)圈或金屬片及金屬箔，固定式或移動(dòng)式硬度檢測(cè)儀先前都無(wú)法測(cè)量。因此，硬度檢測(cè)變得既不依賴(lài)于材料，也不依賴(lài)于檢測(cè)物體的質(zhì)量和幾何結(jié)構(gòu)。這意味著TIV為移動(dòng)式硬度檢測(cè)開(kāi)啟了新的應(yīng)用領(lǐng)域。

美國(guó)GE TIV超聲波硬度計(jì)現(xiàn)貨銷(xiāo)售

 
直接、自動(dòng)、快速測(cè)量與評(píng)估
正如*臺(tái)便攜式儀器一樣，TIV不能確定維氏金剛石壓痕的大小，因而不能間接或直接確定材料的硬度：“通過(guò)壓痕觀(guān)察”是指一施加檢測(cè)負(fù)載的同時(shí)，您就可在檢測(cè)物體表面看到維氏金剛石壓痕的“生長(zhǎng)”--這通過(guò)特殊的光學(xué)元件和CCD攝像頭可予以保證。一旦達(dá)到檢測(cè)負(fù)載，壓痕就自動(dòng)進(jìn)行評(píng)估和傳輸。這就意味著無(wú)需迂回（通過(guò)顯微鏡）就能直接確定對(duì)角線(xiàn)。您的優(yōu)點(diǎn)：測(cè)量不僅更快，而且可排除確定對(duì)角線(xiàn)長(zhǎng)度時(shí)的主觀(guān)錯(cuò)誤。此外：通過(guò)顯示器上的顯示，TIV是能夠直接控制和立即評(píng)估測(cè)量質(zhì)量的硬度檢測(cè)儀。不僅如此，壓痕的圖片可直接識(shí)別金剛石的狀態(tài)。
 
*的技術(shù)
TIV硬度檢測(cè)儀的彩色LCD不僅可以為您提供金剛石壓痕的圖片，而且還可以按照所選硬度單位直接顯示的讀數(shù)。顯示在顯示器上的圖形用戶(hù)界面適應(yīng)于*的Windows標(biāo)準(zhǔn)。用這種方法，不管要配置、測(cè)量、評(píng)估或存儲(chǔ)，您都可以快速地熟練掌握如何操作儀器。另外：您無(wú)需鼠標(biāo)而用一支筆就可以選擇功能，因?yàn)閮x器有一個(gè)觸摸屏。并且，作為代替品，您也可以使用傳統(tǒng)的按鍵操作來(lái)完成功能選擇。

TIV超聲波硬度計(jì)性能特點(diǎn)  
-根據(jù)維氏硬度原理檢測(cè)硬度；
-通過(guò)壓痕觀(guān)察（通過(guò)特殊的光學(xué)元件和CCD攝像頭）；
-通過(guò)觀(guān)察彩色顯示器上壓痕的成長(zhǎng)來(lái)直接檢查和評(píng)估測(cè)量質(zhì)量；
-全自動(dòng)評(píng)估維氏壓痕，確定對(duì)角線(xiàn)，無(wú)需迂回（通過(guò)顯微鏡）；
-不受檢測(cè)方向和檢測(cè)物體材料的限制；
-測(cè)量范圍約為30HV到1000HV以上（取決于探頭）；
-排列清晰的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)，能簡(jiǎn)單而有序地對(duì)檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行存儲(chǔ)。系列測(cè)量值能夠被調(diào)出并進(jìn)行編輯。

TIV超聲波硬度計(jì)應(yīng)用范圍
-熱處理車(chē)間 - 簡(jiǎn)單、快速地確定表面硬度；
-航空航天 - 現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)薄壁部件及不同合金的硬度無(wú)需任何附件校準(zhǔn)；
-線(xiàn)圈制造商 - 對(duì)片材的移動(dòng)式硬度檢測(cè)很可靠；
-檢測(cè)公司 - 通過(guò)使用通用便攜式裝置進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量；
-研究機(jī)構(gòu)、實(shí)驗(yàn)室和培訓(xùn)公司 - “看穿金剛石”，觀(guān)察壓痕過(guò)程與測(cè)量控制；

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